XXVIII Российская конференция
по электронной микроскопии

Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур
и наноматериалов

и VI школа молодых учёных

5-10 сентября 2020 года, Черноголовка
О конференции
Национальные конференции по электронной микроскопии проводятся Научным советом по электронной микроскопии РАН при участии Института кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН и Института проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН на протяжении более чем 50 лет. Такие национальные конференции стали для российских ученых центральным информационным полем, обеспечивающим знаниями и навыками работы на новом высокотехнологичном оборудовании, научными контактами и способствующими привлечению молодежи.

XXVIII конференция и VI школа молодых ученых пройдут в Черноголовке 5-10 сентября 2020 года. Будут приглашены зарубежные ученые и фирмы-производители оборудования. Конференция будет сопровождаться изданием сборника тезисов. Шаблон тезисов и рекомендации по из оформлению Вы найдете в личном кабинете после регистрации. Выпуску сборника будет присвоен международный номер ISBN и идентификатор DOI. Расширенные статьи по материалам конференции будут опубликованы в журналах, индексируемых в базах данных Scopus, Web of Science и РИНЦ ("Кристаллография", "Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования", "Российские нанотехнологии", "Известия РАН").
Организаторы
Научный совет по электронной микроскопии
ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
ИПТМ РАН
НИЦ «Курчатовский институт»
Организационный комитет
Ковальчук
Михаил
Валентинович
председатель конференции, член-корреспондент РАН, президент НИЦ "Курчатовский институт"
Каневский Владимир Михайлович
заместитель председателя организационного ­комитета, руководитель Института кристаллографии имени А.В. Шубникова — структурного подразделения ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
Рощупкин Дмитрий Валентинович
заместитель председателя организационного ­комитета, ВРИО директора ИПТМ РАН
Гусарова
Наталья Николаевна
секретарь, ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
Кумсков
Андрей
Сергеевич
учёный секретарь, ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
Члены оргкомитета
Авилов А.С. (ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН)
Благов А.Е. (НИЦ КИ)
Васильев А.Л. (НИЦ КИ, организатор школы молодых ученых)
Дьякова Ю.А. (НИЦ КИ)
Казьмирук Л. А. (ИПТМ РАН)
Казьмирук В.В. (ИПТМ РАН)
Латышев А.В. (ИФП СО РАН)
Николайчик В.И. (ИПТМ РАН)
Осипов Н.А. (ИПТМ РАН)
Саранин А.А. (ИАПУ ДВО РАН)
Толстихина А.Л. (ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН)
Форш П.А. (НИЦ КИ)
Якимов Е.Б. (ИПТМ РАН)
Программный комитет
Авилов
Анатолий
Сергеевич
председатель программного комитета, заведующий отделом электронной кристаллографии Института ­кристаллографии им. А.В. Шубникова ФГУ ФНИЦ ­«Кристаллография и фотоника» РАН
Члены программного комитета
Васильев А.Л. — зам. председателя (НИЦ КИ)
Якимов Е.Б. — зам. председателя (ИПТМ РАН)
Аронин А.С. (ИПТМ РАН)
Артемов В.В. (ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН)
Боргард Н.И. (МИЭТ)
Жигалина О.М. (ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН)
Ищенко А.А. (МИТХТ)
Клечковская В.В. (ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН)
Латышев А.В. (академик, директор ИФП СО РАН)
Марченков Н.В. (НИЦ КИ)
Мохов А.В. (ИГЕМ РАН)
Николайчик В.И. (ИПТМ РАН)
Пашаев Э.М. (НИЦ КИ)
Попенко В.И. (ИМБ РАН)
Рау Э.И. (физфак МГУ)
Соколова О.С. (биофак МГУ)
Толстихина А.Л. (ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН)
Условия участия
Для участия в конференции и школе молодых учёных необходимо заполнить форму регистрации на сайте и оплатить организационный взнос. Для участников конференции участие в школе молодых ученых бесплатно. Способы оплаты и пошаговая инструкция будут указаны в личном кабинете, логин и пароль от которого придёт на указанную Вами почту после регистрации.

Размеры организационных взносов до 1 августа 2020 года составляют:
Участие в школе молодых учёных
бесплатно
Участие в конференции
10 000 руб.
После указанного срока размеры взносов удваиваются.
Важные даты
1 июля
Последний день приёма тезисов
1 августа
Крайний срок сниженной стоимости оргвзноса
5-6 сентября
Даты проведения VI школы молодых учёных
6-10 сентября
Даты проведения XXVIII Российской конференции по электронной микроскопии
План мероприятия
Школа
Конференция
5 сентября (суббота)

9.45–10.00 Открытие школы

10.00–10.50 Кауль А.Р.(МГУ): Исследования новых материалов методами электронной микроскопии и комплементарными методами

10.50–11.40 Чвалун С.Н. (НИЦ «Курчатовский институт»): Микроскопия в исследовании полимеров

11.40–12.10 Перерыв

12.10–13.00 Орлова Е.В. (Brisbane College, UK): Криогенная электронная микроскопия- последние достижения

13.00–14.00 Обед

14.00–14.50 Лебедев О.И. (LaboratorieCRISMAT, Caen, France): Высокоразрешающая электронная микроскопия

14.50-15.40 Артемов В.В. (ФНИЦ «Кристаллография и фотоника»): Растровая электронная микроскопия в исследовании материалов

15.40–16.00 Перерыв

16.00–16.50 Руденко К. (ФТИ РАН): Современная микроэлектроника – микроскопия, без которой невозможно обойтись

16.50–17.40 Хмеленин Д.Н. (ФНИЦ «Кристаллография и фотоника»): Современные методы приготовления образцов для ПЭМ

17.40–19.00 Семинарские занятия с лекторами школы и представителями фирм-производителей оборудования.

19.00 Стендовая сессия и фуршет
6 сентября (воскресенье)

10.00–10.50 Чувилин А. (Nanogune, San-Sebastian, Spain): Микроскопия в исследовании углеродных материалов.

10.50–11.40 Абакумов А. (Сколково): Название доклада уточняется

11.40–12.00 Перерыв

12.00–12.50 Толстихина А. (ФНИЦ «Кристаллография и фотоника»): Зондовая микроскопия, последние достижения.

12.50–13.40 Рогожкин С.В. (ИТЭФ): Атомно-зондовые исследования материалов

13.40–14.40 Обед

14.40–15.30 Пашаев Э.М. (НИЦ «Курчатовский институт»): Методы рентгеновской дифрактометрии

15.30–16.20 Субботин И. (НИЦ «Курчатовский институт»): Исследования многослойных структур комплементарными методами

16.20–16.40 Перерыв

16.40–17.30 Л. Меши (Израиль): Изучение наноразмерных структур с помощью электронной кристаллографии

17.30–18.20 Пока не определено

18.20–19.30 Семинарские занятия с лекторами школы и представителями фирм-производителей оборудования

19.30 Welcome Party (Sponsored by ThermoFisher Scientific and Technoinfo)
7 сентября (понедельник)

9.00 Открытие Конференции – РКЭМ-2020

9.00-09.20 Ковальчук М.В. Открытие конференции

09.20-09.30 Каневский В.М., Рощупкин Д.В. Приветственное слово

Приглашенные доклады

9.30-10.10 Ищенко А.А.: Структурная динамика свободных молекул и
конденсированного вещества

10.10 -10.40 Гутаковский А.К., Латышев А.В.: Применение аналитической
высокоразрешающей электронной микроскопии для анализа атомного строения
и механизмов формирования нанокристаллов в полупроводниковых
гетеросистемах

10.40-11.10 Бондаренко В.И., Васильев А.Л.: Количественный анализ
изображений точечных дефектов в ПРЭМ

11.10-11.40 Боргардт Н.И., Румянцев А.В., Приходько А.С.:
Количественная характеризация атомарной структуры ионно-
имплантированного кремния методами электронной микроскопии и
молекулярно-динамического моделирования»

11.40-12.10 Кофе-брейк

Приглашенный доклад

12.10-12.40 Федина Л.И.: О структуре и распределении деформаций в ядре
скользящей 60 о дислокации перетасованного набора

Новые методы просвечивающей/растровой электронной микроскопии,
электронной дифракции и микроанализа. Новые приборы, элементы
электронной оптики, детекторы и обработка изображений

12.40-13.00 Татарский Д.А., Петров Ю.В., Гусев Н.С., Чувилин А.Л., Гусев С.А.:
Лоренцева просвечивающая электронная микроскопия киральных
текстур в многослойных плёнках Co/Pt

13.00-13.20 Зайцев С.В., Караулов В.Ю., Рау Э.И.: Усовершенствованный
метод визуализации 3Dтопографии микроструктур в сканирующей электронной
микроскопии (Доклад утверждается)

13.20-13.40 Чуховский Ф.Н., Конарев П.В., Бондаренко В.И.: Электронная
дифракционная микро-томография. Современное состояние и перспективы
развития

13.40-15.00 Обед

15.00-15.20 Кулыгин А.К., Авилов А.С.: Прецизионные измерения в электронной
дифрактометрии

15.20-15.40 Казьмирук В.В., Курганов И.Г., Савицкая Т.Н., Бородин А.В.:
Прототип растрового электронного микроскопа МС30: первые результаты

Электронная микроскопия, электронная дифракция и микроанализ в
исследовании новых материалов


15.40-16.00 Овчаров А.В., Суворова Е.И., Каратеев И.А, Дегтяренко П.Н.,
Чепиков В.Н., Кауль А.Р., Васильев А.Л.:
Микроструктурный анализ
сверхпроводящих лент второго поколения на основе (RE)BCO с искусственными
центрами пиннинга различной природы

16.00-16.20 Приходько А.С, Боргардт Н.И., M. Heilmann, J-M. J. Lopes.:
Атомарная структура эпитаксиальных слоев гексагонального нитрида бора на
однослойном и двухслойном графене на SiC подложке

16.20.-16.35 Суфиянова А.Э., Жигалина О.М., Басу В.Г., Пономарев И.И.,
Скупов К.М., Пономарев И.И., Разоренов Д.Ю.:
Влияние термической
обработки на морфологию Pt/УНВ

16.35-17.00 Кофе-брейк

17.00-17.20 Трунькин И.Н., Горлова И.Г., Болотина Н.Б., Бондаренко В.И.,
Чесноков Ю.М., Васильев А.Л.:
Исследование методами электронной
микроскопии монокристаллов TiS 3 с разным удельным сопротивлением

17.20-17.40 Модин Е.Б.: Трехмерная электронная микроскопия в
исследовании наноматериалов

17.40 – 19.00 Cообщение представителей фирм: Thermo Fisher Scientific,
Tokio Boeki, Melytec

10.00-20.00 Стендовая сессия

18.00-20.00 Представление стендовых докладов:
Секция 3. Электронная микроскопия, электронная дифракция
и микроанализ в исследовании новых материалов
8 сентября (вторник)

Приглашенные доклады

09.00 - 9.30 Лукина Е.А., Гуляев А.И., Журавлева П.Л.: Применение
методов высокоразрешающей электронной микроскопии, рентгеновской
рефлектометрии и наноиндентирования для исследования покрытий и
граничных слоев

9.30-10.00 Якимов Е.Е., Якимов Е.Б.: Исследование процессов расширения и
сжатия дефектов упаковки, введенных в 4H-SiC при облучении электронным пучком

10.00-10.30 Иванова А.Г., Троян И.А., Гаврилюк А.Г.: Синтез и структурное
исследование сверхпроводящих полигидридов металлов при высоких давлениях

Электронная микроскопия, электронная дифракция и микроанализ в
исследовании новых материалов


10.30-10.45 Суворова Е.И., Уваров О.В., Архарова Н.А., Скуратов В.А.:
Структура и свойства тонкого слоя HfO 2 -La в композите TiN/HfO 2 /TiN/SiO 2 /Si
после облучения ионами Xe по данным ПЭМ, электронной дифракции и
спектроскопии энергетических потерь электронов

10.45-11.00 Орехов А.С., Архарова Н.А., Клечковская В.В.:
Особенности микроструктуры гидрогеля поли-n-винилпирролидон –
La(NO 3 ) 3 ˑ6H 2 O

11.00-11.30 Кофе-брейк

11.30-11.50 Асеев С.А., Ищенко А.А., Компанец В.О., Кочиков И.В.,
Малиновский А.Л., Миронов Б.Н., Пойдашев Д.Г., Чекалин С.В., Рябов Е.А.:

Исследование процессов, индуцированных фемтосекундным лазерным
излучением, методами сверхбыстрой электронной дифракции

11.50-12.10 Садовская Н.В., Авилов А.С., Хатипов Р.С., Хатипов С.А.:
Особенности структурообразования в композитах ПТФЭ при различных дозах
облучения гамма-квантами

12.30-12.45 Рогожкин С.В., Богачев А.А., Никитин А.А., Васильев А.Л.,
Пресняков М.Ю., Tomut M., Trautmann Ch.:

Влияние облучения тяжелыми ионами на оксидные включения в сталях Eurofer ODS
и ODS 13,5Cr-0,3Ti

12.45-13.00 Жигалина О.М., Хмеленин Д.Н., Атанова А.В., Свиридов А.П.,
Цветков М.Ю:
Электронная микроскопия наноструктур, полученных в процессе
термоплазмонного лазерно-индуцированного травления сапфира

13.00-13.15 Колосов В.Ю.: Новое конденсированное состояние,
выявляемое ПЭМ: трансротационные микрокристаллы, нанострукутры с
кристаллизуемых аморфных плёнках

13.15-13.30 Долуденко И.М., Ерохина Н.С., Загорский Д.Л.,
Жигалина О.М., Муслимов А.Э., Бедин С.А.:

Микроскопия и элементный анализ в изучении нанопроволок из
двойных сплавов

13.30-15.00 Обед

15.00-15.15 Капланский Ю.Ю., Левашов Е.А., Коротицкий А.В., Логинов П.А.:
ПЭМ исследования дислокационной субструктуры дисперсионно-
твердеющего сплава на основе B2-NiAl после деформации ползучести

15.15-15.30 Гнесин И.Б., Гнесин Б.А., Карпов М.И., Некрасов А.Н., Прохоров
Д.В., Внуков В.И., Строганова Т.С.:
Особенности химического состава фаз в
жаропрочных сплавах системы Nb-Mo-C

Электронная микроскопия в химии, геологии и изучении предметов
искусства


15.45-16.00 Мохов А.В., Горностаева Т.А., Рыбчук А.П.: Способ коррекции ЭДС-
анализа силикатной тонкой плёнки на массивной подложке в СЭМ

16.00-16.15 Созонтов Е.А., Преснякова Н.Н., Пахунов А.С., Грешников Э.А.,
Малахов С.Н., Гайдуков П.Г.:
Растровая электронная микроскопия и другие
комплементарные методы в комплексном изучении чернильных новгородских
берестяных грамот XIV-XV веков

16.15-16.30 Чугунова К.С., Григорьева И.А., Лукашова М.В.: Комплексный подход
к исследованию бисера из навеса Мешоко

16.30-16.45 Зобенько О.А., Лукашева М.В, Округин В.М., Заикина А.В,
Философова Т.М.:
Автоматический поиск и анализ частиц AZTEC FEATURE при изучении
редкометальной минерализации золото-серебряных руд»

16.45-17.10 Кофе-брейк

Электронная и ионная литография. Микроскопия в современных
технологиях


17.10-17.30 Шабельникова Я.Л., Зайцев С.И.: Дефектообразование в подложке
при экспонировании резиста ионами галлия

17.30-17.50 Казьмирук В.В., Курганов И.Г., Подкопаев А.А., Савицкая Т.Н.:
Оптимизация электронно-оптической системы электронного литографа для
экспонирования шаблонов

18:00-19:00 Cообщение представителей фирм Tescan и Oxford Instr.

10.00-20.00 Стендовая сессия

18.00-20.00 Представление стендовых докладов:

Секция 1. Новые методы просвечивающей/растровой электронной
микроскопии, электронной дифракции и микроанализа. Hовые приборы,
элементы электронной оптики, детекторы и обработка изображений.

Секция 4. Растровая электронная и ионная микроскопия. In-situ
исследования в РЭМ.

Секция 5. Сканирующая зондовая микроскопия

Секция 6. Исследование сверхбыстрых процессов, фемтосекундная микроскопия,
динамическая электронная кристаллография

Секция 7. Электронная и ионная литография. Микроскопия в
современных технологиях

Секция 8. Электронная микроскопия в химии, геологии и
изучении предметов искусства

Секция 9. Комплементарные (синхротронно-нейтронные и
др.) методы
9 сентября (среда)

Приглашенные доклады

19.00-9.30 Миронов В.Л.: Магнитно-резонансная силовая микроскопия
ферромагнитных тонкопленочных наноструктур

Сканирующая зондовая микроскопия

9.30-9.50 Коплак О.В.: Магнито-силовая микроскопия от магнитомеченных клеток
до спеченных магнитов и элементов спинтроники

9.50-10.10 Маханек А.А., Мельникова Г.Б., Петровская А.С., Чижик С.А.:
Определение механических свойств многослойных материалов методом атомно-
силовой спектроскопии

10.10-10.30 Макарова И.П., Селезнева Е.В., Коморников В.А., Гайнутдинов Р.В.,
Толстихина А.Л., Васильев А.Л., Малышкина И.А.:
Кристаллы-суперпротоники:
влияние изменений водородных связей на свойства

10.30-11.00 Кофе-брейк

Растровая электронная и ионная микроскопия.
In-situ исследования в РЭМ


11.15-11.30 Якимов Е.Б.: Исследование оптических свойств и
диффузионной длины в Ga2O3 методами РЭМ

12.00-12.15 Озерова К.Е., Рау Э.И., Татаринцев А.А.: Новый сценарий
кинетики зарядки диэлектриков и сегнетоэлектриков при электронном и
ионном облучении

12.30-12.45 Вергелес П.С., Якимов Е.Б., Поляков А.Я.: Исследование методом
катодолюминесценции V-дефектов в GaN

12.45-13.00 Шемченко Е.И., Глазунова В.А., Яковец А.А.: Люминесценция
ионов Eu3+ в наноструктурных плёнках нитрида углерода CNx:EuyOz,
полученных с помощью DC-магнетрона

Применения электронной микроскопии и комплементарных методов

13.00-13.20 Пруцков Г.В., Чесноков Ю.М., Пашаев Э.М., Субботин И.А.,
Васильев А.Л.:
Разномасштабная структурная диагностика многослойных
гетероструктур

13.20-13.35 Шайтан К.В., Ложников М.А., Новоселецкий В.Н., Армеев Г.А.,
Кудрявцев А.В., Кобельков Г.М., Шайтан А.К., Кирпичников М.П.:
Численные
эксперименты с использованием алгоритмов нейронных сетей по определению
относительных конфигураций альфа-спиралей в белковых структурах по данным
дифракции рентгеновского лазерного излучения на единичных частицах

13.35-14.45 Обед

14.45-19.45 Круглый стол, обсуждение перспектив и новые методы
электронной микроскопии (Крио-ЭМ, птихография и др.)

15.00-20.00 Стендовая сессия

19.45-20.00 Представление стендовых докладов:
Секция 2. Крио-ЭМ и применение электронной, конфокальной сканирующей
микроскопии в биологии и медицине
10 сентября (четверг)

Крио-ЭМ и применение электронной, конфокальной
сканирующей микроскопии в биологии и медицине


9.00-9.20 Клинов Д.В., Дубровин Е.В., Баринов Н.А.: Атомно-силовая
микроскопия одиночных молекул биополимеров сверхвысокого разрешения

9.20-9.40 Пичкур Е.Б., Полесскова Е.В., Касацкий П.С., Остерман И.А.,
Поликанов Ю.С., Мясников А.Г., Коневега А.Л.:
Крио-ЭМ структура 70S рибосомы из E. coli
в комплексе с диритромицином. Определение структуры комплекса Dps-ДНК методами
криоэлектронной томографии

9.40-10.00 Камышинский Р.А., Чесноков Ю.М., Дадинова Л.А., Можаев А.А., Петухов
М.В., Орехов А.С., Штыкова Э.В., Васильев А.Л.:
Определение структуры комплекса
Dps-ДНК методами криоэлектронной томографии

10.00-10.20 Sorokin I.I., Аfonina Zh.А., Strelkova О.S., Zakharova Е.V.,
Кireev I.I., Shirokov V.А.:
Comparative analysis of polyribosomes by electron microscopy
and single molecule localization microscopy

10.20-10.40 Усачев К.С., Хусаинов И.Ш., Фатхуллин Б.Ф., Бикмуллин А.Г., Харрасов
Д.Р., Шибалова Ю.В., Исламов Д.Р., Габдулхаков А.А., Голубев А.А., Валидов Ш.З.,
Юсупова Г.Ж., Юсупов М.М.:
Структурные исследования механизма остановки
трансляции Staphylococcus aureus в присутствии белка RsfS по данным криоЭМ и
кристаллографии

10.40-11.00 Пичкур Е.Б., Кудрявцева С.С., Моисеенко А.В., Ярошевич И.А.,
Станишнева-Коновалова Т.Б.:
Структура асимметричного GroEL-GroES комплекса по
данным криоэлектронной микроскопии

11.00-11.15 Сузина Н.Е., Мачулин А.В., Поливцева В.Н., Шорохова А.П., Соболева
О.И., Абашина Т.Н., Дуда В.И.:
Поверхностные ультраструктуры бактерий-хищников:
особенности надмолекулярной организации и механизмы действия

11.15-11.30 Сайдакова С.С., Струнов А.А., Морозова К.Н.: Трёхмерная
реконструкция оболочки веретена деления нейробластов на разных стадиях митоза
Drosophila melanogaster

11.30-11.40 Чесноков Ю.М., Камышинский Р.А., Орехов А.С.:
Использование Крио-ФИП для приготовления ультратонких срезов клеток
эпидермиса

11.40-11.50 Арсенюк А.Ю.: Исследования морфологии популяций микроорганизмов
методом сканирующей электронной микроскопии

11.50-12.00 Бакеева Л.Е., Вайс В.Б., Вангели И.М., Эльдаров Ч.М.: Прогрессирующая
с возрастом реорганизация митохондриального аппарата скелетной мышцы голого
землекопа (Heterocephalus glaber), выявленная с помощью электронной микроскопии:
возможная роль в сохранении работоспособности мышц

12.00-12.10 Шатров А.Б., Солдатенко Е.В.: Личинки: Limnochares aquatica (L.,
1758) (Acariformes, Limnocharidae) и особенности их паразитизма с позиций
электронной микроскопии

12.10-12.20 Ивлиев Ю.Ф., Осипов Н.Н., Трофимов О.В., Ильин А.И.:
Об электризации адгезионных щетинок геккона-токи в РЭМ и ее причинах

12.20-12.30 Попенко В.И., Караджян Б.П., Иванова Ю.Л., Леонова О.Г.: Структурная
организация хроматина и ядрышкового домена в соматических ядрах инфузорий

12.30-12.40 Михуткин А.А., Камышинский Р.А., Тенчурин Т.Х., Григорьев Т.Е., Чвалун
С.Н., Васильев А.Л.:
Трехмерный анализ ПЛЛА-матриксов для тканевой инженерии

12.40-13.00 Кофе-брейк

13.00 Закрытие конференции.

13.00-13.15 Авилов А.С. Завершающее слово. Подведение итогов.
Место проведения
5-10 сентября 2020 года
Большая гостиная Дома Учёных НЦЧ РАН
Московская ­область, г. Черноголовка, Школьный бульвар, 1В
Контакты организаторов